La caracterización de materiales consiste en determinar que sustancias componen a un material en particular y es algo que se está desarrollando mucho visto su gran importancia y sus crecientes campos de aplicación; como por ejemplo detectar explosivos, armas y sustancias prohibidas en las aeropuertos.
En este sentido investigadores del Laboratorio de Microtecnología y Nanotecnología de Gaustadbekkdalen de Oslo (Noruega) han desarrollado un sensor de rayos X que tiene la capacidad de detectar y mostrar la composición de un material en tan solo una fracción de segundo y con una alta precisión. Está investigación responde a la demanda de la industria de instrumentación para realizar análisis de materiales rápidos y confiables.
El sensor utilizado es un cuadrado de 8 milímetros por lado y se conoce como diodo de derivación; consiste en una microestructura de doble cara que está fabricada sobre obleas de silicio: El proceso de fabricación requiere de cuidados extremos, a tal grado que solo dos o tres empresas en el mundo tienen actualmente la capacidad de construirlo. Se requieren de 8 semanas para construir cada sensor y durante todo ese tiempo se debe trabajar en un ambiente altamente desinfectado.
Como resultado del proceso de construcción se tiene un sensor ultrasensible a la luz que puede utilizarse para caracterizar materiales basándose en la espectroscopía, lo que implica hacer pasar la luz a través de un objeto determinado para poder medir los cambios en las características del haz de luz y así determinar sus características, de manera que es posible identificar de que material se trata.
En este caso, se lanza un haz de rayos X y se hace pasar por el sensor que tiene dos caras, ofreciendo una caracterización del material prácticamente inmediata. Los desarrolladores de este sensor esperan que tenga gran demanda en un futuro para ser incluido en equipos diversos, ya que además de su gran precisión su funcionamiento demanda poca energía eléctrica.
